QJ 1521-1988 固体材料深低温比热容测试方法
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来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 固体材料深低温比热容测试方法 |
| 中标分类： |
航空、航天 >>
航空、航天材料与工艺 >>
航空、航天材料基础标准 |
| ICS分类： |
航空器和航天器工程 >>
航空航天制造用材料 >>
航空航天制造用材料综合
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| 发布日期： | 1988-04-25 |
| 实施日期： | 1988-12-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 出版日期： | |
| 页数： | 10页 |
适用范围
没有内容
前言
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目录
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引用标准
没有内容
所属分类： 航空 航天 航空 航天材料与工艺 航空 航天材料基础标准 航空器和航天器工程 航空航天制造用材料 航空航天制造用材料综合
【英文标准名称】:Plastics--Determinationofresidualstyrenemonomerinpolystyrene(PS)andimpact-resistantpolystyrene(PS-I)bygaschromatography
【原文标准名称】:塑料.用气相色谱法测定聚苯乙烯(PS)中残余的苯乙烯单体和耐冲击聚苯乙烯(PS-I)
【标准号】:JISK6869-2009
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2009-01-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonChemicalProducts
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:G31
【国际标准分类号】:83_080_20
【页数】:18P;A4
【正文语种】:日语
【英文标准名称】:Testingofmaterialsforsemiconductortechnology-Determinationofimpuritycontentinsiliconbyinfraredabsorption-Part1:Oxygen
【原文标准名称】:半导体工艺材料检验.用红外吸收法测量硅的杂质含量.第1部分:氧
【标准号】:DIN50438-1-1995
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1995-07
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体工艺;无损检验;半导体器件;电学测量;材料;红外线光谱法;化学分析和试验;半导体;红外线吸收;杂质;氧;半导体工程;硅;矽;定义;试验;测量技术;材料试验;含量测定
【英文主题词】:Chemicalanalysisandtesting;Definition;Definitions;Determinationofcontent;Electricalmeasurement;Impurities;Infraredabsorption;Infraredspectroscopy;Materials;Materialstesting;Measuringtechniques;Non-destructivetesting;Oxygen;Semiconductordevices;Semiconductorengineering;Semiconductortechnology;Semiconductors;Silicon;Testing
【摘要】:Thisdocumentspecifiestwomethodsforthenon-destructivedeterminationoftheoxygencontentinsiliconbyinfraredabsorption.
【中国标准分类号】:H17
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:10P;A4
【正文语种】:德语
