JIS M8706-1996 铁矿石.筛分粒度测定方法
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【英文标准名称】:Ironores--Determinationofsizedistributionbysieving
【原文标准名称】:铁矿石.筛分粒度测定方法
【标准号】:JISM8706-1996
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:1996-09-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonIronandSteel
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:筛分设备;粒度分布;按大小分级;铁矿石
【英文主题词】:sizeclassification;particlesizedistribution
【摘要】:この規格は,目開き45μm以上のふるいを使用する,鉄鉱石のふるい分けによる粒度分布測定の方法を規定する。
【中国标准分类号】:D31
【国际标准分类号】:73_060_10
【页数】:32P;A4
【正文语种】:日语
基本信息
| 标准名称： | 高精度机用平口钳 技术条件 |
| 中标分类： |
机械 >>
金属切削机床 >>
机床辅具与附件 |
| ICS分类： |
机械制造 >>
机床装置 >>
分度和刀具/工件夹持装置
|
| 替代情况： | ZB J52006.3-1989;被JB/T 9937-2011代替 |
| 发布部门： | 全国金属切削机床标委会机床附件分会 |
| 发布日期： | 1999-05-20 |
| 实施日期： | 2000-01-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 2011-08-01 |
| 归口单位： | 全国金属切削机床标委会机床附件分会 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 3 页 |
| 批文号： | 国机管[1999]283号 |
适用范围
JB/T 9937.3-1999 本标准是对 ZB J52 006.3-89《高精度机用平口钳 技术条件》的修订，修订时仅按有关规定进行了编辑性修改，主要技术内容未改变。 本标准是 JB/T 9937《高精度机用平口钳》系列标准的一部分，该系列标准包括以下三个部分： JB/T 9937.1-1999 高精度机用平口钳 参数 JB/T 9937.2-1999 高精度机用平口钳 精度检验 JB/T 9937.3-1999 高精度机用平口钳 技术条件 本标准规定了高精度机用平口钳的技术要求、检验规则、标志和包装等。 本标准适用于平面磨床、工具磨床及其他精密机床使用的高精度机用平口钳。 本标准于 1989 年 3 月首次发布。
前言
没有内容
目录
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引用标准
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所属分类： 机械 金属切削机床 机床辅具与附件 机械制造 机床装置 分度和刀具/工件夹持装置
【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part30:Preconditioningofnon-hermeticsurfacemountdevicespriortoreliabilitytesting(IEC60749-30:2005+A1:2011);GermanversionEN60749-30:2005+A1:2011
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性测试前非密封表面安装设备预处理(IEC60749-30-2005+A1-2011).德文版EN60749-30-2005+A1-2011
【标准号】:DINEN60749-30-2011
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2011-12
【实施或试行日期】:2011-12-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Atmosphericpressure;Changesoftemperature;Climate;Climatic;Climatictests;Components;Dimensions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environment;Environmentaltesting;Environmentaltests;Flammability;Heat;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Moisture;Preconditioning;Reliability;Reliabilitytesting;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;SMD;Surfacemounting;Temperature;Testing;Tightness;Visualinspection(testing)
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:14P;A4
【正文语种】:德语
