ASTM F816-1983(2003) 大型混合微电路插件的综合微泄漏和总泄漏的试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-01 21:59:46  浏览:9838   来源:标准资料网

【英文标准名称】:StandardTestMethodforCombinedFineandGrossLeaksforLargeHybridMicrocircuitPackages
【原文标准名称】:大型混合微电路插件的综合微泄漏和总泄漏的试验方法
【标准号】:ASTMF816-1983(2003)
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:1983
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.03
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:砌块;电子工程;外壳;泄漏;混合集成电路;试验
【英文主题词】:heliumleakcheck;hermeticpackages;hybridmicrocircuits
【摘要】:Thistestmethodprovidesanevaluationofthequalityofanin-linesealingprocessonarealtimebasisforsealedpackages.Iteliminatestheneedtoexposethespecimentolongexposuresofhighpressuretodrivetheheliumgasintothe
【中国标准分类号】:L55
【国际标准分类号】:
【页数】:4P.;A4
【正文语种】: